ADVACAM: Adaptace detekce obrazu pro částicový detektor (ML / CV)

Jaká byla potřeba klienta – identifikace problému

• Zlepšit kvalitu a přesnost výstupu polovodičového pixelového detektoru částic redukcí obrazových defektů senzoru.

• Využít strojové učení i v situaci s omezenou dostupností trénovacích dat.

Návrh řešení

• Analýza a příprava dat + výběr a testování modelu pro klasifikaci obrazu (deep learning, CNN, visual transformers).

• Trénink a validace modelů, identifikace důležitých rysů pro klasifikaci a návrh workflow/reportingu pro využití v praxi.

Přínosy pro klienta

• Čistší a použitelnější obrazová data ze senzoru → vyšší spolehlivost následné detekce/klasifikace částic.

• Praktický ML workflow vhodný i pro scénáře s malým množstvím trénovacích dat.

The need / The situation

• Improve the accuracy and output quality of a semiconductor pixel particle detector by reducing sensor image defects.

• Apply machine learning effectively even with limited training data availability.

The solution

• Data analysis and preparation, followed by model selection and testing for high-accuracy image classification (deep learning, CNNs, visual transformers).

• Model training and validation, feature importance exploration, and delivery of a practical workflow/reporting approach.

Why it matters

• Cleaner, more usable sensor data leading to more reliable particle detection and classification downstream. • An ML workflow that remains effective even with small datasets.